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26. Kongress der Deutschsprachigen Gesellschaft für Intraokularlinsen-Implantation, Interventionelle und Refraktive Chirurgie (DGII)

Gesellschaft für Intraokularlinsen-Implantation, Interventionelle und Refraktive Chirurgie

08.03. - 10.03.2012, Berlin

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Verbesserung der IOL-Berechnung durch optische Teilstreckenmessung, Topographie und Ray-Tracing

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  • Peter Hoffmann - Castrop-Rauxel
  • P. R. Preußner - Mainz

Deutschsprachige Gesellschaft für Intraokularlinsen-Implantation, Interventionelle und Refraktive Chirurgie. 26. Kongress der Deutschsprachigen Gesellschaft für Intraokularlinsen-Implantation, Interventionelle und Refraktive Chirurgie (DGII). Berlin, 08.-10.03.2012. Düsseldorf: German Medical Science GMS Publishing House; 2012. Doc12dgii034

doi: 10.3205/12dgii034, urn:nbn:de:0183-12dgii0340

Published: March 7, 2012

© 2012 Hoffmann et al.
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Fragestellung: Die axiale Position der IOL ist der größte Einzelfehler bei der Berechnung. Wir untersuchten, ob zusätzliche biometrische Daten wie optisch gemessene Vorderkammertiefe und Linsendicke sowie Vorder- und Rückflächentopographie die Präzision der Vorhersage verbessern können.

Methodik: In einer prospektiven Serie haben wir 539 Augen mit dem Zeiss IOLMaster, Haag-Streit Lenstar und Tomey TMS5 vermessen und operiert. Die Daten wurden in verschiedenen Konstellationen mit der Ray-Tracing-Software Okulix verwendet. Parallel wurde eine Dünne-Linsen-Formel so modifiziert, daß die Linsendicke berücksichtigt wird.

Ergebnisse: Alle untersuchten Methoden erzielten exzellente Ergebnisse. Sowohl beim Ray-Tracing als auch bei Gaußscher Optik kann die Hereinnahme der Linsendicke die Präzision verbessern. Topographiedaten können bei abnormen Augen sehr gute Resultate bringen, in der Masse jedoch sind die möglichen Verbesserungen sehr klein. Der mittlere Absolutfehler sinkt auf bis zu 0.30 dpt, bis zu 84% aller Augen sind unter 0.5 dpt Fehler.

Schlussfolgerung: Zusätzliche Daten können die IOL-Berechnung weiter verbessern. Das größte Potential hat die Linsendicke. Physikalische Meßdaten können mittels Ray-Tracing direkt eingesetzt werden. Für die Einarbeitung in konventionelle Formeln müßten erst große Fallzahlen gesammelt und ausgewertet werden.