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Ziel: Analyse und Darstellung posteriorer Oberflächentrübungen von explantierten Silikon-Intraokularlinsen (IOLs) mit klinisch-pathologischer Korrelation zur asteroiden Hyalose.

Methoden: Zehn explantierte Silikon-IOLs wurden Laboranalysen unterzogen, darunter Lichtmikroskopie, histologische Färbung mit Alizarinrot, Rasterelektronenmikroskopie (REM) und energiedispersive Röntgenspektroskopie zur Identifikation der Elementarzusammensetzung (EDX). Es wurden klinische Daten erhoben, einschließlich Geschlecht, Alter bei der IOL-Implantation, Datum der Implantation und Explantation sowie Informationen zur Vorgeschichte einer Neodym-dotierten Yttrium-Aluminium-Granat-(Nd:YAG)-Laserbehandlungen oder anderer Versuche zur Entfernung der Trübung. Hochauflösende optische Kohärenztomographie (OCT)-Bilder wurden in vitro mit einem OCT-Gerät des vorderen Augenabschnitts (Anterion, Heidelberg Engineering, Heidelberg, Deutschland) aufgenommen.

Ergebnisse: Bei allen zehn analysierten Silikon-IOLs wurde eine lokalisierte posteriore Trübung bestätigt. REM- und EDX-Analysen zeigten, dass sich die Ablagerungen aus Calciumphosphaten an der hinteren optischen Oberfläche der Silikon-IOLs befanden. In allen Fällen wurde vor dem IOL-Austausch erfolglos versucht, die IOL mit einem Nd:YAG-Laser zu polieren. Anhand der klinischen Fälle konnte gezeigt werden, dass diese Art der IOL-Trübung überwiegend zu subjektiven Blendungssymptomen und einer Zunahme des Streulichts führt.

Schlussfolgerungen: Silikon-IOLs können bei den Patienten mit asteroider Hyalose eine Eintrübung der hinteren Oberfläche entwickeln. Es gibt Techniken zur Reinigung der IOL-Oberfläche, aber in vielen Fällen muss eine IOL-Explantation durchgeführt werden, um die Sehqualität zu verbessern. Der Zusammenhang zwischen der posterioren Oberflächentrübung von Silikon-IOLs und der asteroiden Hyalose sollte im Rahmen der IOL-Selektion berücksichtigt werden.